検索条件入力 ＞ 書誌詳細 ＞ 関連資料一覧：（本学所蔵）
関連資料一覧：（本学所蔵）
検索条件
著者情報：Watkins, George D.
選択行を：
 資料名所蔵館責任表示出版者出版年所在
1書影Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A. ( Materials Research Society symposium proceedings ; v. 46 )中央図書館editors, Noble M. Johnson, Stephen G. Bishop, George D. WatkinsMaterials Research Society1985中央５階洋 549.8||Mi 13
選択行を
▲ページトップへ