Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A.
書誌情報:Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A.
editors, Noble M. Johnson, Stephen G. Bishop, George D. Watkins
Pittsburgh, Pa. : Materials Research Society , c1985
xv, 604 p. : ill. ; 24 cm
 WebCatPlus を見る
CiNii Books を見る


  


所蔵一覧
巻号予約人数所在請求記号資料ID状態貸出区分備考 
1 0中央５階洋
  • 549.8
  • Mi 13
  •  
00511511 利用可
一般 

選択行を：  

書誌詳細
刊年1985
形態xv, 604 p. : ill. ; 24 cm
シリーズ名Materials Research Society symposium proceedings ; v. 46
注記Includes bibliographies and indexes
出版国アメリカ合衆国
標題言語英語
本文言語英語
著者情報Johnson, Noble M.
Bishop, Stephen G.
Watkins, George D.
Materials Research Society
Materials Research Society. Meeting
Symposium on Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors
分類LCC:TK7871.85
DC19:621.3815/2
ISBN0931837111
件名LCSH:Semiconductors -- Defects -- Congresses
LCSH:Microscopeandmicroscopy -- Congresses
NCIDBA03908080
番号LCCN : 85019753

WebCatPlus を見る    CiNii Books を見る
▲ページトップへ