書誌情報:X線反射率法入門
Xセン ハンシャリツホウ ニュウモン
桜井健次編
東京 : 講談社 , 2009.2
xii, 306p : 挿図 ; 21cm

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所蔵一覧
巻号予約人数所在請求記号資料ID状態貸出区分備考 
1 0中央２階
  • 549.8
  • E 42
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00845607 利用可
一般 

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書誌詳細
刊年2009
形態xii, 306p : 挿図 ; 21cm
別書名Introduction to X-ray reflectivity
X線反射率法入門
注記編集: 講談社サイエンティフィク
参考文献: 章末
出版国日本
標題言語日本語
本文言語日本語
著者情報桜井, 健次 (サクライ, ケンジ)
分類NDC8:549.8
NDC9:549.8
ISBN9784061532687
件名BSH:薄膜
BSH:エックス線
BSH:非破壊検査
NCIDBA89058343
番号OTHN : TRC:09007229

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