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書誌情報:Defect recognition and image processing in III-V compounds, II : proceedings of the Second International Symposium on Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds (DRIP II), Monterey, California, April 27-29, 1987
edited by Eicke R. Weber
Amsterdam ; Tokyo : Elsevier , 1987
x, 320 p. : ill. ; 25 cm
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巻号予約人数所在請求記号資料ID状態貸出区分備考 
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書誌詳細
刊年1987
形態x, 320 p. : ill. ; 25 cm
シリーズ名Materials science monographs ; 44
注記Includes bibliographies and index
出版国オランダ
標題言語英語
本文言語英語
著者情報International Symposium on Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds
Weber, Eicke R.
分類LCC:TK7871.85
DC19:621.3815/2
ISBN0444428925
件名LCSH:Semiconductors -- Defects -- Congresses
LCSH:Galliumarsenide -- Congresses
LCSH:Imageprocessing -- Congresses
NCIDBA04031349
番号LCCN : 87027177

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