検索条件入力 ＞ 書誌詳細 ＞ プロセス評価
書誌情報:プロセス評価
プロセス ヒョウカ
西澤潤一編
東京 : 工業調査会 , 1981.6
12, 446p : 挿図 ; 27cm
 WebCatPlus を見る
CiNii Books を見る


  


所蔵一覧
巻号予約人数所在請求記号資料ID状態貸出区分備考 
1 0中央５階
  • 428.85
  • H 29
  • 17
00368888 利用可
一般 

選択行を：  

書誌詳細
刊年1981
形態12, 446p : 挿図 ; 27cm
シリーズ名半導体研究 ; 17巻[超LSI技術 ; 4]
注記執筆: 飯塚尚和ほか
出版国日本
標題言語日本語
本文言語日本語
著者情報西澤, 潤一(1926-) (ニシザワ, ジュンイチ)
分類NDC8:549
件名NDLSH:半導体
NCIDBN00182548
番号NBN : JP81031378

WebCatPlus を見る    CiNii Books を見る
▲ページトップへ