| 刊年 | 1999 |
| 形態 | vi, 182p ; 26cm |
| 別書名 | 材料評価のための分析電子顕微鏡法
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| 注記 | 参考文献: 各章末 |
| 出版国 | 日本 |
| 標題言語 | 日本語 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 著者情報 | 進藤, 大輔(1953-) (シンドウ, ダイスケ)
及川, 哲夫(1951-) (オイカワ, テツオ)
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| 分類 | NDC8:549.97
NDLC:M217
NDC9:549.97 |
| ISBN | 4320085248
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| 件名 | BSH,NDLSH:電子顕微鏡
BSH,NDLSH:材料試験
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| NCID | BA41742572 |
| 番号 | NBN : JP99095811OTHN : JLA:99022100 |