Temporally distributed symptoms in technical diagnosis
書誌情報:Temporally distributed symptoms in technical diagnosis
K. Nökel.
Berlin ; New York : Springer-Verlag , c1991.
ix, 164 p. : ill. ; 24 cm.


  


所蔵一覧
巻号予約人数所在請求記号資料ID状態貸出区分備考 
1New York0中央５階洋
  • 007.1
  • L 49
  • 517
00514866 利用可
一般 

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書誌詳細
刊年1991
形態ix, 164 p. : ill. ; 24 cm.
別書名Lecture notes in computer science ; 517. Lecture notes in artificial intelligence
シリーズ名Lecture notes in computer science.[Lecture notes in artificial intelligence.]
注記Includes bibliographical references (p. 157-162) and index.
出版国ドイツ
標題言語英語
本文言語英語
著者情報Nökel, K. (Klaus)
ISBN0387543163(New York)
3540543163(Berlin)
件名LCSH:Expertsystems(Computerscience)
LCSH:Faultlocation(Engineering)
番号LCCN : 91223341

   
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