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書誌情報:Defect and fault tolerance in VLSI systems
edited by Israel Koren ... [et al.]
New York : Plenum Press , c1989-c1990
2 vols. : ill. ; 26 cm

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所蔵一覧
巻号予約人数所在請求記号資料ID状態貸出区分備考 
1v. 10中央５階洋
  • 549.7
  • D 53
  • 1
00512476 利用可
一般 
2v. 20中央５階洋
  • 549.7
  • D 53
  • 2
00512477 利用可
一般 

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書誌詳細
刊年1989-1990
形態2 vols. : ill. ; 26 cm
注記"Proceedings of the International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, held October 6-7, 1988, in Springfield, Massachusetts"--T.p. verso
Vol. 2 edited by C.H. Stapper ... [et al.]
Includes bibliographies and index
出版国アメリカ合衆国
標題言語英語
本文言語英語
著者情報Koren, Israel
Stapper, C. H.
International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
分類LCC:TK7874
DC20:621.39/5
ISBN0306432242(v. 1)
0306435314(v. 2)
件名LCSH:Integratedcircuits -- Verylargescaleintegration -- Designandconstruction -- Congresses
LCSH:Fault-tolerantcomputing -- Congresses
NCIDBA07383615
番号LCCN : 89008448

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