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Defect and fault tolerance in VLSI systems
書誌情報:Defect and fault tolerance in VLSI systems
edited by Israel Koren ... [et al.]
New York : Plenum Press , c1989-c1990
2 vols. : ill. ; 26 cm
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所蔵一覧
巻号
予約人数
所在
請求記号
資料ID
状態
貸出区分
備考
1
v. 1
0
中央5階洋
549.7
D 53
1
00512476
利用可
一般
2
v. 2
0
中央5階洋
549.7
D 53
2
00512477
利用可
一般
選択行を:
書誌詳細
刊年
1989-1990
形態
2 vols. : ill. ; 26 cm
注記
"Proceedings of the International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, held October 6-7, 1988, in Springfield, Massachusetts"--T.p. verso
Vol. 2 edited by C.H. Stapper ... [et al.]
Includes bibliographies and index
出版国
アメリカ合衆国
標題言語
英語
本文言語
英語
著者情報
Koren, Israel
Stapper, C. H.
International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
分類
LCC:TK7874
DC20:621.39/5
ISBN
0306432242(v. 1)
0306435314(v. 2)
件名
LCSH:Integratedcircuits -- Verylargescaleintegration -- Designandconstruction -- Congresses
LCSH:Fault-tolerantcomputing -- Congresses
NCID
BA07383615
番号
LCCN : 89008448
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