High resolution electron microscopy of defects in materials : symposium held April 16-18, 1990, San Francisco, California, USA
書誌情報:High resolution electron microscopy of defects in materials : symposium held April 16-18, 1990, San Francisco, California, USA
editors, Robert Sinclair, David J. Smith, Ulrich Dahmen
Pittsburgh, Pa. : Materials Research Society , c1990
xi, 391 p. : ill. ; 24 cm
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書誌詳細
刊年1990
形態xi, 391 p. : ill. ; 24 cm
シリーズ名Materials Research Society symposium proceedings ; v. 183
注記Inclcudes bibliographical references
Includes index
出版国アメリカ合衆国
標題言語英語
本文言語英語
著者情報Sinclair, Robert
Smith, David J., 1948-
Dahmen, Ulrich
Materials Research Society
分類LCC:TA417.23
DC20:620.1/1299
ISBN1558990720
件名LCSH:Materials -- Microscopy -- Congresses
LCSH:Materials -- Defects -- Congresses
LCSH:Electronmicroscopy -- Congresses
NCIDBA11043199
番号LCCN : 90041466

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